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熱門關(guān)鍵詞： 測角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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簡要描述：美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量在與眾多的光學(xué)材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統(tǒng)，用于測量大面積光學(xué)材料，如用于LCD（高達(dá)1500mm x 1500mm）的光學(xué)材料。 隨著液晶顯示器材料規(guī)格的成熟，專業(yè)化的系統(tǒng)已經(jīng)成為行業(yè)所需要的。Hinds現(xiàn)在提供從GEN5到GEN
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2022-09-27訪 問 量：1950
詳細(xì)介紹
美國Hinds Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量
用于LCD的Exicor GEN系列
與眾多的光學(xué)材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統(tǒng)，用于測量大面積光學(xué)材料，如用于LCD（高達(dá)1500mm x 1500mm）的光學(xué)材料。 隨著液晶顯示器材料規(guī)格的成熟，專業(yè)化的系統(tǒng)已經(jīng)成為行業(yè)所需要的。Hinds現(xiàn)在提供從GEN5到GEN8的LCD玻璃尺寸系統(tǒng)，有可選的傾斜級（所有型號）以及厚度和翹曲測量（GEN5和GEN6）。
重要特點(diǎn)
• 占地小 - 大幅度地減少設(shè)備所需的工廠空間
• 創(chuàng)新的平臺設(shè)計(jì) - 設(shè)計(jì)使可測量面積更大化
• 強(qiáng)大的自動化 - 質(zhì)量階段和硬件更大化正常運(yùn)行時(shí)間
• 穩(wěn)定的服務(wù)支持 - 各地的支持中心和備件中心
• 符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn) - 符合S2 / S8和CE標(biāo)準(zhǔn)
• 靈活的軟件 - 優(yōu)化的GUI軟件。 自定義功能和DLL接口可用
• 低維護(hù)設(shè)計(jì) - 易于維修的組件
• 負(fù)載輔助 - 傾斜階段選項(xiàng)
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